我国科研团队在MLCC辐射效应研究中取得突破性进展|精品国产乱码久久久久久免费
1. 精品国产乱码久久久久久免费|精品
2. 精品国产乱码久久久久久免费_亚洲
3. 精品国产乱码久久久久久免费_
中新网成都11月6日电 (记者 刘忠俊)记者11月6日从中国工程物理研究院电子工程研究所获悉,该院联合微系统太赫兹研究中心牵头,携手四川大学、西安交通大学,在多层陶瓷电容器(MLCC)的辐射效应研究领域取得重大突破。
据了解,该科研团队首次发现并系统揭示了MLCC在持续辐照环境下的低剂量率损伤增强效应(ELDRS)及损伤机制,彻底颠覆了“陶瓷电容器无辐射敏感性”的传统认知。目前,相关研究成果已发表于国际权威学术期刊《自然·通讯》(Nature Communications)。
作为电子系统中的核心基础元件,MLCC长期被认为具备较强的辐射耐受性。但随着器件向微型化方向发展、介质层厚度不断减薄,其内部承受的电场强度持续增大,辐射引发的材料缺陷及性能演化问题也日益突出。
通过开展原位辐照实验,科研团队首次明确证实了MLCC在伽马射线持续作用下的电容退化现象,并发现该器件存在显著的ELDRS效应——即相较于高剂量率辐照,低剂量率辐照下器件的损伤程度更为严重。
此外,该研究还首次揭示了辐照停止后MLCC出现的“阶跃恢复效应”,为深入理解航空航天、核工业等特殊辐射环境中电子器件的性能退化规律提供了全新视角,也为后续抗辐射MLCC的设计与制备奠定了理论基础。(完)
xiangxipouxilianggeqiyebushuianli,yenengyidingchengdushangxiaochushangshudanyou。zhijiangjiuyezhisuoyibeiyaoqiubujiao8500wanyuanxiaofeishui,zhijieyuanyinshishenjibumenfaxianwenti,shuiwubumenjucizhixing。详(xiang)细(xi)剖(pou)析(xi)两(liang)个(ge)企(qi)业(ye)补(bu)税(shui)案(an)例(li),(,)也(ye)能(neng)一(yi)定(ding)程(cheng)度(du)上(shang)消(xiao)除(chu)上(shang)述(shu)担(dan)忧(you)。(。)枝(zhi)江(jiang)酒(jiu)业(ye)之(zhi)所(suo)以(yi)被(bei)要(yao)求(qiu)补(bu)缴(jiao)8(8)5(5)00万(wan)元(yuan)消(xiao)费(fei)税(shui),(,)直(zhi)接(jie)原(yuan)因(yin)是(shi)审(shen)计(ji)部(bu)门(men)发(fa)现(xian)问(wen)题(ti),(,)税(shui)务(wu)部(bu)门(men)据(ju)此(ci)执(zhi)行(xing)。(。)